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EPK Minitest 2100膜厚儀
涂層測(cè)厚儀：
涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線(xiàn)圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
涂層測(cè)厚儀具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）
涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類(lèi)型：
1.磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測(cè)量精度高。
2.渦流測(cè)厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。
德國(guó)EPK Minitest 2100測(cè)厚儀涂鍍層測(cè)厚儀,是便攜式、無(wú)損、快速、測(cè)量覆層厚度的精密儀器。所有讀數(shù)自動(dòng)記入統(tǒng)計(jì)程序。測(cè)厚儀有兩種統(tǒng)計(jì)程序。一種是讀數(shù)統(tǒng)計(jì)，一種是組統(tǒng)。
應(yīng)用于測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層、有色金屬上的絕緣覆層和絕緣基體上的有色金屬覆層等。測(cè)厚儀上電后即可用于測(cè)量。
EPK Minitest 2100膜厚儀
MINITEST2100型的存儲(chǔ)器陣列可自動(dòng)存儲(chǔ)10,000個(gè)以上讀數(shù)。數(shù)據(jù)可打印和統(tǒng)計(jì)評(píng)估。
- 適用于多種應(yīng)用的耐磨探頭
- 具有自動(dòng)基板檢測(cè)的通用探頭允許鋼和有色金屬的快速測(cè)量
- 具有幾乎無(wú)限壽命的耐磨探頭
- 測(cè)量精度高，重復(fù)性好
- 測(cè)量值的存儲(chǔ)與評(píng)估
- 特殊的粗糙表面和校準(zhǔn)標(biāo)定函數(shù)未知涂層(CTC方法)
- 所有的探頭都配備了耐磨桿，確保使用壽命長(zhǎng)，也適用于磨料基板。
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；所有型號(hào)均可配所有探頭；可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。刪除操作必須在測(cè)讀后，下一次測(cè)讀前完成。
2100型測(cè)厚儀，根據(jù)測(cè)頭類(lèi)型的不同，分別運(yùn)用磁感應(yīng)和渦流原理測(cè)量覆層厚度，并符合以下工業(yè)標(biāo)準(zhǔn):
DIN 50981、50982、50984；ASTM B499、B244；ISO 2178、2360；BS 5411。
DIN 50981和50984已經(jīng)被DIN EN ISO 2178和DIN EN ISO 2360所代替。
基本操作設(shè)置:
- 選擇測(cè)量單位: 公制 / 英制
- 自動(dòng)關(guān)機(jī)與非自動(dòng)關(guān)機(jī)的選擇
- 浮點(diǎn)小數(shù)和定點(diǎn)小數(shù)的選擇
- 單值和批組統(tǒng)計(jì)之間的轉(zhuǎn)換
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的人工和自動(dòng)模式之間的轉(zhuǎn)換
- 單次測(cè)量和連續(xù)測(cè)量模式的轉(zhuǎn)換
- 連續(xù)模式中，測(cè)量穩(wěn)定后數(shù)據(jù)才被顯示和存儲(chǔ)，連續(xù)模式有利于測(cè)量材料厚度。
- 背景光照明選擇(可選) 在連續(xù)模式下，保留小測(cè)量值
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